Phasics社では、UV / VIS / SWIR / IR の波長領域に合わせたセンサーをベースに、高精度波面センサー SID4シリーズを開発製造しています。

これらの製品は、レーザー測定、光学計測、天文学、防衛、宇宙、半導体製造などの用途やマーケットで利用されています。

動作波長別に、UV / VIS / SWIR / IR の4カテゴリーに分けてご紹介します。

各製品の仕様 ・ データシート

UV対応モデル

UV領域に波長感度をもつ波面センサーです。 半導体向け光学部品の特性評価(リソグラフィー、半導体製造、検査)および表面検査(レンズとウエハ)などの用途に最適です。

SID4 UV

SID4 UV

動作波長 : 190nm~400nm
測定ポイント : 300x300
紫外標準タイプ

SID4 UV HR

SID4 UV HR

動作波長 : 190nm~400nm
測定ポイント : 512x512
紫外高解像度タイプ


VIS対応モデル

可視域~近赤外域に感度をもつ波面センサーです。 レーザー評価、レンズや様々な光学部品などあらゆる光学計測アプリケーションに使用できます。
また、市場初の真空対応や 位相イメージングに使用できる超高解像度波面センサーなど多彩な機種をラインアップしています。

SID4

SID4

動作波長 : 400nm~1,100nm
測定ポイント : 182x136
標準タイプ

SID4 HR

SID4 HR

動作波長 : 400nm~1,100nm
測定ポイント : 416x360
高解像度タイプ

SID4 HR V

SID4 HR V

動作波長 : 400nm~1,100nm
測定ポイント : 416x360
真空対応タイプ

SID4 UHR

SID4 UHR

動作波長 : 400nm~1,100nm
測定ポイント : 554x554
超高解像度タイプ

SID4 sC8

SID4 sC8

動作波長 : 400nm~1,050nm
測定ポイント : 852x720
位相イメージング対応タイプ

SID4 Bio

SID4 Bio

動作波長 : 400nm~1,100nm
測定ポイント : 416x360
位相イメージング対応タイプ


SWIR対応モデル

SID4 SWIR / SID4 SWIR HRは、InGaAsセンサーを搭載しており、主に光通信、半導体検査機器、宇宙 / スペース関連の光学機器の評価などに使用されます。
また SID4 eSWIR / SID4 eSWIR HRは、T2SLセンサーを使用しており、1.2µm~2.2µmの拡張SWIRをカバーする唯一の波面センサーです。

SID4 SWIR

SID4 SWIR

動作波長 : 0.9µm~1.7µm
測定ポイント : 80x64
近赤外標準タイプ

SID4 SWIR HR

SID4 SWIR HR

動作波長 : 0.9µm~1.7µm
測定ポイント : 160x128
近赤外高解像度タイプ

SID4 eSWIR

SID4 eSWIR

動作波長 : 0.9µm~1.7µm
測定ポイント : 80x64
近赤外標準タイプ

SID4 eSWIR HR

SID4 eSWIR HR

動作波長 : 1.4µm~2.1µm
測定ポイント : 159x127
近赤外拡張型センサー高解像度タイプ


IR対応モデル

3~5 µm および 8~14 µmのデュアルバンド赤外線用の初の既製の高解像度波面センサーです。
IR光学系、黒体光源、3.39µm または 10.6µmのレーザービーム、およびシステムの特性評価に適しています。

SID4-DWIR

SID4 DWIR

動作波長 : 3~5 µm & 8~14 µm
測定ポイント : 160x120
デュアルバンド赤外タイプ


参照


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