Phasics社では、ユーザーのご要望に合わせたシステムアップのお手伝いを行っています。

UV / VIS / SWIR / IR の波長領域に合わせたセンサーをベースに、測定対象物に合わせて光源 ・ 光学系をカスタマイズして 設計 ・ 開発 ・ 製造 ・ 納入と運用までのサポートを行います。

干渉計などでは困難であったシステムの構築なども対応可能です。

各製品の仕様 ・ 技術資料など

Kaleo Kit

光学デバイス計測ソリューション

Kaleo Kitは、光学部品類の検査、評価システムです。 サンプルの評価内容に合わせて互換性のあるさまざまな光学モジュールを組み合わせることで、コンパクトで使いやすいシステムを構築することができます。

システムは、様々な測定構成に適応し、TWE、RWE、波面収差、MTF、PSFなど、サンプルのすべての特性に適応させることが可能です。

光学デバイス計測ソリューション Kaleo Kit

対応波長

  • UV (190nm~400nm)
  • VIS~NIR (400nm~1,100nm)
  • SWIR (900nm~1,700nm)
  • MWIR (3µm~5µm)

特長

  • UV~IRまでシステム構築可能
  • 高精度、広いダイナミックレンジ
  • ナノメートル感度
  • 簡単オペレーション

仕様

  • 波面センサー : UV / VIS / SWIR / DWIR 対応モデル
  • R-Cubeの波長 [nm] : 365 / 405 / 530 / 625 / 740 / 780 / 810 / 850 / 940 / 1,050 / 1,550 / 3,900
  • フォーカスシステム(F#) : 0.7 / 0.9 / 1.3 / 2.1 / 3.3 / 5 / 9
  • ビームエキスパンダ - 射出瞳径 [mm] : 8 / 15 / 30 / 60 / 100 / 130
  • 参照ミラー : 平面または球形
  • リクエストに応じて、さらにオプションを追加できます。

Kalas

高精度ビーム計測システム

Kalasは、最大127mm(5インチ)径 のビームを高精度(<15nm RMS)で特性評価するために必要なすべてのコンポーネントを統合したモジュールソリューションです。

一度に波面特性と強度特性を測定し、発散、ビームウエスト寸法、M²、およびビームを完全に評価するために必要なすべての情報を計算します。

高精度ビーム計測システム Kalas

対応波長

  • VIS~NIR (400nm~1,100nm)
  • SWIR (900nm~1,700nm)

特長

  • 目的に合わせてシステムを構築可能
  • 高精度、広いダイナミックレンジ
  • 振動の影響を受けにくい
  • 簡単オペレーション

仕様

  • 波面センサー : SID4 / SID4 HR / SID4 SWIR / SID4 SWIR HR
  • 入射瞳径 [mm]※1 : 8 / 15 / 25.4 / 50.8 / 101.6 / 127
  • 光源波長 [nm]※2 : 405 / 530 / 740 / 780 / 810 / 850 / 940 / 1,050 / 1,550
  • 精度 : < 15nm RMS
  • 寸法 / 重量※3 : 450 x 350 x 250 mm³ / 15kg
  • ※1
    リクエストに応じて、より大きな瞳孔も用意しています。
  • ※2
    リクエストに応じて、ほかのソースも利用できます。
  • ※3
    127mmバージョンの場合。

Kaleo MultiWAVE

多波長対応干渉計

Kaleo MultiWAVEは、透過波面と反射波面(TWE / RWE) の両方を測定できる新しい光学干渉計です。 コーティングの有無にかかわらず 直径5.1インチ(130mm)を超えるサイズで測定することができます。

この機器は多波長での波面測定を目的として開発された干渉計で、フィゾー干渉計に匹敵する測定精度を提供。 関連の光学機器の評価などに使用されます。

多波長対応干渉計 Kaleo MultiWAVE

対応波長

  • UV (190nm~400nm)
  • VIS~NIR (400nm~1,100nm)
  • SWIR (900nm~1,700nm)
  • MWIR (3µm~5µm)
  • LWIR (8µm~14µm)

特長

  • ご要望の波長に対応
    (UV - VIS - NIR - SWIR - MWIR - LWIR)
  • 同一ベンチで複数波長を測定
  • ナノメートルの位相分解能
  • 高ダイナミックレンジ

仕様

  • 構成 : ダブルパス
  • 測定 : 透過波面 / 反射波面
  • 機器あたりの波長数 : 1 または 2(標準)、最大 8(カスタム)
  • カスタム波長 : 193nm~14µmまでの任意の波長
    — UV (266, 355, 405 nm)
    — VIS / NIR (550, 625, 780, 940, 1050 nm)
    — SWIR / MWIR / LWIR (1.55, 2.0, 3.39, 10.6 µm を含む)
  • クリアアパーチャ : 5.1インチ(130mm)
  • ビーム高さ : 108mm
  • アライメントシステム : 位相マップとゼルニケ係数の表示
  • 偏光 : 偏光解消光学系に対応
  • アライメントFOV : ± 2°
  • 瞳孔焦点範囲 : ± 2.5m
  • 寸法 / 重量 : 910 x 600 x 260 mm³ / 25kg
  • 除振台 : 不要

Deformable mirrors and Spatial Light Modulators

光学補償システム

光学補償システムのAOループは、デフォーマブルミラー(MEMSミラー)、ピエゾミラー、SLM、メンブレンなど、あらゆる変形デバイスと組み合わせることができます。

Phasics社は、ISP、Night'N、Dynamic Optics、Cilas、Alpao、OKO、Holoeye、Hamamatsuなど多数のプロバイダーとの確立されたパートナーシップにより、幅広いソリューションとの互換性を有しています。 また、ご希望のパフォーマンスに合わせたAOループのご提案も可能にしています。

関連の光学機器の評価などに使用されます。

光学補償システム Deformable mirrors and Spatial Light Modulators

対応波長

  • UV (190nm~400nm)
  • VIS~NIR (400nm~1,100nm)
  • SWIR (900nm~1,700nm)
  • eSWIR (1.2µm~2.1µm)
  • MWIR (3µm~5µm)
  • LWIR (8µm~14µm)

特長

  • カスタムデザイン対応可能
  • あらゆる変形ミラー技術にも対応
  • 低残留位相

仕様

  • デフォーマブルミラー : MEMS, ピエゾ, 電磁, SLM
  • サイズ : 直径 10mm~800mm
  • アクチュエータの数, ダメージ閾値, 修正速度, ヒステリシス : 技術依存

R-Cube Illumination module

ダブルパス構成用の照明モジュール

R-Cubeは、Phasics社の波面センサーでダブルパス光学系を簡単に構築するためのオプションモジュールです。 ミラーおよび大型レンズの収差測定に使用でき、光学テストシステムの較正や補償光学系における小型望遠鏡などの調整に利用可能です。

このR-Cubeは、非常に高品質の平行ビームを照射します。 また、波面センサーとそのまま接続でき、ダブルパスでの波面測定を簡単かつ正確に行うことができます。

ダブルパス構成用の照明モジュール R-Cube Illumination module

対応波長

  • UV (190nm~400nm)
  • VIS~NIR (400nm~1,100nm)
  • SWIR (900nm~1,700nm)
  • MWIR (3µm~5µm)
  • LWIR (8µm~14µm)

特長

  • UV~SWIRまでの超高品質コリメートビーム生成
  • 設置面積が小さく、簡単に接続可能
  • 独立して使用できる波面センサー用のオプションモジュール

仕様

  • 波面センサー : UV / VIS / SWIR / DWIR 対応モデル
  • ビーム径 : 関連する波面センサー瞳孔に適合
  • 光源波長 [nm] : 365 / 405 / 530 / 625 / 740 / 780 / 810 / 850 / 940 / 1,050 / 1,550 / 3,900
  • 参照ミラー品質 : λ/20 PV(632.8nm)
  • フェーズ分解能(ノイズ) : < 2nm RMS
  • 特定の波長のカスタム開発も可能です。 詳しくはお問合せください。

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