AxoScan-HSO
液晶配向膜測定システム、PI測定
液晶ディスプレイの不具合の一つである配向膜の不良を高速に評価・検査する装置。
配向層と無配向層の厚さ測定、TFTやカラーフィルタ上の配向膜測定も可能。
LCD開発、配向膜・液晶材料開発における配向評価、高分子膜や有機薄膜の異方性・配向評価なども対応します。
- 張り合わせ前の配向不良検査を高信頼性に評価
- 膜厚
- 配向方位角
- 異方性大きさ
- 傾斜角
- 屈折率 など
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