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リニアスリットスキャン式 ビームプロファイラー
BeamScope-P8

Pyroelectric to 50µm

リニアスリットスキャンタイプで 1/e²、FWHM のビームサイズを測定可能です。M²DU ステージと本体の組み合わせにより最大 45×23mm 以下のビーム径の測定が可能です。楕円形ビームの測定も可能です。


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リニア式スリットスキャン ビームプロファイラー
6.0"(W)×2.0"(H)
Measurable Sources CW or Pulsed sources >5kHz Pulse Rep Rate @ 5% duty factor. Higher PRR is better.
Measured Beam Powers See the graph in the Notes, below.
E.g. 6µW to 3 W, for a 1 mm diameter (1/e2) Gaussian beam @ 633 nm, 5µm slit.
Optical Dynamic Range 55 dB (= 300,000:1) [75 dB with Neutral Density 2.0 film
Shape of Maximum Scanned
Area
　Pinholes (PA series)
　Single Slits (SS series)
　X-Y Slits (XY series)
　2-D Stage (M2B)		 Important: For accurate measurements, beamwidth should be < 0.5 x Scan Dimensions.With /EPH extended probe head, dimension 23 mm below, becomes 35 mm.
Shape：Cross Scan x Scanned Length
Line Scan：Pinhole diameter x 23 mm
Rectangle：7* x 23 mm, (* 5 for Ge, 3 for InAs
Trapezoid：5* x 15/5 mm, (* 3 for Ge, 2 for InAs, 3.5 x 13.5/6.5 for XYPl5)
Rectangle：45 x 23 mm scanned area image. Scans a pinhole over this area.
Measured Beam
Diameters/Widths		 0.5µm to ～25 mm (Defined as the 1/e2 diameter, = 13.5% of peak for Gaussian beams)
Measurement Resolution 0.5 ?m, or 0.5% of the measured beam diameter, whichever is greater
Measurement Accuracy ±1µm ±2% of measured beam diameter
Measured Beam Profiles X & Y
Linear & logarithmic profile display modes
Measured Profile
Parameters		 Gaussian beam diameter
Gaussian fit
Second Moment beam diameter
Knife-Edge beam diameter
Centroid position, relative and absolute
Ellipticity + Orientation of Major Axis
Beam Wander display
Displayed Profiles (Note 1) X only, Y only, X & Y
2-D plot (10,16 or 256 colors)
3-D plot (10,16 or 256 colors)
Update Rate 1 to 2 Hz. Depends upon the PC Processor Speed, Scanned Profile & Selected Options
Data Analysis
　Pass /Fail
　Averaging
　Standard Deviation
On all measured parameters, on-screen, in selectable Pass/Fail colors
Beam Diameter Running Average and Accumulating Average options
On Accumulation Averaging Screen
Power Measurement Units of mW, dBm, dB, % or user entered (relative to a reference measurement provided by the user.)
Source to Slit Distance 1.0 mm minimum
Aperture sizes (Note 2 )
Slits

Pinholes		 Important: See Scanned Area (above ) for measurable beam dimensions
2.5, 5, 10, 25 and 100µm wide 7 mm long (Planar version of 5µm slits are 5 mm long)
5, 10, 25 and 50µm diameter (Larger or smaller pinholes to special order)
Wavelength Range
　Silicon Detector
　Germanium Detector
　InAs
　Pyroelectric New
190 to 1150 nm
800 to 1800 nm
1500 to 4 µm
190 nm to 20 µm
Mounting 1/4-20 & M6 threaded mounting holes
Temp. Range (inc. Accessories)
　Operating
　Storage
10℃ to 35℃
5℃ to 45℃
Minimum PC Requirements
PC or Intel-Mac		 USB2.0 port, Windows XP or Vista; 1024 MB RAM; 10 MB Hard Drive space;
1024x768 monitor.

どの波長が測定できますか？

190～1150nm (Si ディテクター)、800～1800nm (Ge ディテクター)、1000～2400nm (InGaAs ディテクター)です。

測定原理を教えてください？

レーザビームにリニアスキャンをして、X－Yプロファイルを測定します。

測定パワーはいくつですか？

検出器、波長、ビーム径により異なりますが、ユーザーマニュアルの4ページを確認ください。
http://www.dataray.com/pdf/BeamScope-P8_Datasheet.pdf

WinCamDとBeamscopeシリーズの大きな違いは何ですか？

WinCamDはCCD、CMOSを使ってレーザを測定します。なので、必ず減衰系が必要です。一方、スキャン式はディテクターに耐光強度があるため、強い光を入射することができます。

パルス光源は測定することができますか？

5kHz以上であれば測定できます。

最小測定ビーム径はどのくらいですか？

0.5µmです。

最大測定ビーム径はどのくらいですか？

セレクションガイドの1ページ下部のスキャンエリアを確認ください。
ビームプロファイラー　セレクションガイドPDF 349KB

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