製品一覧

レーザー干渉計 SP 5000  NG

レーザー干渉計 SP 5000 NG

モジュール式レーザー干渉計
最大5mまでの長さ測定

レーザー干渉計 SP 15000 NG

レーザー干渉計 SP 15000 NG

モジュール式レーザー干渉計
長距離向け 長さ測定

ディファレンシャルレーザー干渉計 SP 5000 DI

ディファレンシャルレーザー干渉計 SP 5000 DI

モジュール式レーザー干渉計 / マルチビームレーザー干渉計
超高安定 長さ測定

ディファレンシャルレーザー干渉計 SP 5000 DI/F

ディファレンシャルレーザー干渉計 SP 5000 DI/F

超高安定 長さ測定 / 組込用

ダブルビームレーザー干渉計 SP 5000 DS

ダブルビームレーザー干渉計 SP 5000 DS

マルチビームレーザー干渉計
長さ、ヨー角の測定

トリプルビームレーザー干渉計 SP 5000 TR

トリプルビームレーザー干渉計 SP 5000 TR

マルチビームレーザー干渉計
長さ、ヨー角、ピッチ角の測定

校正用レーザー干渉計 SP 15000 C6 NG

校正用レーザー干渉計 SP 15000 C6 NG

マルチビームレーザー干渉計
最大6軸の測定
機器キャリブレーション用

高安定性 ディファレンシャルレーザー干渉計 SP 5000 DI/DS

高安定性 ディファレンシャルレーザー干渉計 SP 5000 DI/DS

マルチビームレーザー干渉計
超高安定 長さ、ピッチ角測定


測定原理

SIOS社のSPシリーズは、マイケルソン干渉計の構造を持ったレーザー変位計です。 19インチラック本体に搭載されたHeNeレーザーは光ファイバーで測定ヘッドに導入され、2本のビーム(それぞれ『リファレンスビーム』と『測定ビーム』)に分割されます。

『測定ビーム』が測定対象の表面から反射された後、センサーヘッド内に戻り『リファレンスビーム』と干渉します。 この時、観測される干渉縞から測定対象物までの距離を精密に測定します。

マイケルソン構造の説明図 マイケルソン構造の説明図


SP-NG, SP-DS, SP-TRシリーズ

SP-NG, SP-DS, SP-TRシリーズ

測定ヘッドから放たれる測定ビームは測定対象で反射し、測定ヘッドに戻ります。 複数本のビームが放たれるユニットでは、各ビームの距離差から、測定対象物までの距離、ピット、ヨーそれぞれを同時にリアルタイムに測定することが可能です。

SP-DI(ディファレンシャルタイプ)

SP-DI(ディファレンシャルタイプ)

SP-DIシリーズは、2つの測定対象物の距離差(ディファレンシャル)を測定します。 測定ヘッドで分割されたビームは、独立した測定対象物に照射されます。 いずれのビームも大気の変動を受けることになりますが、互いに誤差を相殺する構造となっているため、長時間、また変化する気温などの影響を受けにくく、非常に安定した測定結果が約束されます。 ディファレンシャル測定で、距離、ピッチ、ヨー を同時にリアルタイムに測定可能なタイプもあります。


特長


1. 高精度安定化 HeNeレーザーを搭載

19インチラック本体に 高精度安定化 HeNeレーザー(ヘリウムネオンレーザー)を搭載し、測定結果が熱放射の影響を受けないよう光ファイバーを介して測定ヘッドに導入されています。

2. インターフェース

USBポートでPCへの接続をはじめ、トリガー信号の送受信、測長データをデジタル、アナログ信号として吐き出すインターフェースもご用意しています。 APIを使用して外部機器とのインテグレーションも可能です。


3. InfasNTC(ベーシックソフトウェア)

InfasNTC(グラフ)

— リサージカーブによる簡単アライメントサポート機能。
— 環境センサー(温度、湿度、気圧)による測定補正。
— 用途に合わせてサンプリングレートをユーザーが設定。
— グラフ、数値で測定結果を一括表示。
— すぐに測定が始められます!

4. アッベエラー / アライメントエラー なし (※ SP-TRシリーズ)

SP-TRシリーズは、距離、ピッチ、ヨーの 3軸同時測定するので、各エラ-がピッチ角として表示されます。 これにより設置ミスによるエラーをなくすことが可能です。

アッベエラー(Abbe Error)

アッベエラー(Abbe Error)

アライメントエラー(Alignment Error)

アライメントエラー(Alignment Error)


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