BeamMap2
XYZΘ⌀走査スリット型
ビームプロファイラー
BeamMap2は回転スキャンタイプのビームプロファイラであり、ビームの移動に沿った複数位置で測定可能な、Beam'R2の発展機種です。
BeamMap2は、リアルタイム・ビーム・プロファイリングの核心的なアプローチです。
このリアルタイムスリットスキャニングシステムは、回転するパック上の XY スリット対を使用して、4 つの異なるZ位置でビームプロファイルを同時に測定します。
BeamMap2のユニークで特許取得済みのデザインは、フォーカス位置、M2、ビームダイバージェンス、ポインティングのリアルタイム測定に最適です。
測定波長に関してはBeam'R2と同様なオプションが可能です。
特長
-
幅広い波長に対応
・ 190～1150 nm、Siliconディテクター
・ 650～1800 nm、InGaAsディテクター - Multiple plane spacing（平面多重測定）オプションあり
- ビーム径 5µm～4mmまでのレーザーに対応（Siディテクター、Knife Edgeモード 1µm設定時）
- 0.1µmの測定分解能
- Linear & log X-Y profiles, centroid
- プロファイルズーム&スリット幅補正機能あり
- Real-time multiple Z plane scanning slit system
- リアルタイムXYZプロファイル、フォーカスポジション
- リアルタイムM2、Divergence、Collimation、Alignment測定
- USB 2.0接続、バスパワー駆動
アプリケーション
- レーザープリンティングおよびマーキング用レーザーの測定
- 医療用レーザーの測定
- 半導体レーザーシステムの測定
-
通信用ファイバーオプティックの組立焦点合わせ
（要 LensPlate2オプション) - 研究開発、生産現場、フィールドサービスでの使用
- CW、Pulseレーザー、⌀µm [500/(PRR in kHz)]
BeamMap2の動作原理
回転ディスク（「パック」）に配置された複数のXYスリットペアが、Z軸に平行な軸を中心に回転します。
これにより、ISO 11146規格の直交リニアスキャン要件を満たします。
- 焦点領域において、複数のZ方向に分離されたスリットが高精度にキャリブレーション済み。
- スリットは局所的な半径方向に対して±45°の角度で配置。
- 実効スリット幅は、実際のスリット幅の2倍。
仕様
| Wavelength |
Si detector: 190 to 1150 nm |
|---|---|
| Scanned Beam Diameters |
Si detector: 5 µm to 4 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode※ |
| Plane Spacing (4XY models) |
100 µm: -100, 0, +100, +400 µm |
| Plane Spacing (3XYKE models) |
50 µm: -50, 0, +50, 0 µm |
| Beam Waist Diameter Measurement |
Second moment (4s) diameter to ISO 11146; |
| Beam Waist Position Measurement |
± 20 µm best in X, Y, and Z — contact DataRay for recommendation |
| Measured Sources |
CW; Pulsed lasers, F µm = [500/(PRR in kHz)] |
| Resolution Accuracy |
0.1 µm or 0.05% of scan range ± < 2% ± = 0.5 µm |
| M² Measurement |
1 to > 20, ± 5% |
| Divergence/Collimation, Pointing |
1 mrad best — contact DataRay for recommendation |
| Maximum Power & Irradiance |
1 W Total & 0.5 mW/µm² |
| Gain Range |
1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range |
| Displayed Graphics |
X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16 |
| Update Rate |
〜5 Hz |
| Pass/Fail Display |
On-screen selectable Pass/Fail colors. Ideal for QA & Production. |
| Averaging |
User selectable running average (1 to 8 samples) |
| Statistics |
Min., Max., Mean, Standard Deviation |
| XY Profile & Centroid |
Beam Wander display and logging |
| Minimum PC Requirements |
Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port |
-
※Knife-Edge mode requires 3XYKE model
技術資料
図面
製品紹介動画
DataRay特許技術 BeamMap2によるリアルタイム M²、拡がり、アライメント測定
この製品に関するお問合せフォーム
フォームが表示されるまでしばらくお待ちください。
しばらくお待ちいただいてもフォームが表示されない場合、恐れ入りますが こちら までお問合せください。