1. トップ
  2. 取扱メーカー 一覧
  3. DataRay
  4. スリットスキャン型 ビームプロファイラー
  5. コリメートXYZΘ⌀走査スリット型 ビームプロファイラー BeamMap2-CM

コリメートXYZΘ⌀走査スリット型
ビームプロファイラー
BeamMap2-CM

BeamMap2-CM は、BeamMap2 より広い最大 25mm という Z 範囲の4か所でビームプロファイルを測定できます。
これによりリアルタイムで ±1 mr の精度で発散角とビーム位置が測定可能です。

Collimate – XYZΘ⌀ Scanning Slit
USB 2.0 Port-powered

Windows 7 / Vista / XP (32 / 64 bit), Mac*
*Mac operation requires a Windows XP/Vista/7 installation running in Boot Camp,Parallels, VMWare Fusion, etc.

特長

  • 190 to 1150 nm, Silicon detector
  • 650 to 1800 nm, InGaAs detector
  • 1000 to 2300 or 2500 nm, InGaAs (extended) detector
  • Beam diameters ~100 µm to ~3 mm (1.5 mm with extended InGaAs)
  • 25 µm slit pairs with Si; 0.1 to 2 µm sampling intervals
  • 50 µm slit pairs with InGaAs; 0.1 to 2 µm sampling intervals
  • Real-time ±1 mr real-time Divergence and Pointing measurement accuracy
  • Port-powered USB 2.0; flexible 3 m cable; no power brick
  • 0.1 µm sampling and resolution
  • Linear & log X-Y profiles, centroid
  • Profile zoom & slit width compensation
  • Real-time multiple Z plane scanning slit system
  • Real-time XYZ profiles, Focus position
  • Real-time M², Divergence, Collimation, Alignment

用途

  • Laser printing & marking
  • Medical lasers
  • Diode laser systems
  • Fiber optic telcom assembly focusing – LensPlate2™ option for re-imaging waveguides and fiber ends
  • Development, production, field service
  • CW; Pulsed lasers, ⌀ µm ≥ [500/(PRR in kHz)]
  • M2 measurement with available M2DU stage

BeamMap2の動作原理

回転ディスク（「パック」）に配置された複数のXYスリットペアが、Z軸に平行な軸を中心に回転します。
これにより、ISO 11146規格の直交リニアスキャン要件を満たします。

焦点領域において、複数のZ方向に分離されたスリットが高精度にキャリブレーション済み。

スリットは局所的な半径方向に対して±45°の角度で配置。

実効スリット幅は、実際のスリット幅の2倍。

BeamMap2 schematic puck configuration

ソフトウェア

仕様

Wavelength Si detector: 190 to 1150 nm
InGaAs detector: 650 to 1800 nm
Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm
Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm
Scanned Beam Diameters Si detector: 5 µm to 4 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode※1
InGaAs detector: 10 µm to 3 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode※1
InGaAs (extended) detector: 10 µm to 2 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode※1
Plane Spacing (CM4 models) 5 mm: -5, 0, +5, +20 mm
Plane Spacing (CM3 models) 10 mm: -10, 0, +10, 0 mm
Resolution Accuracy 0.1 µm or 0.05% of scan range ± < 2% ± = 0.5 µm
Beam Waist Diameter Measurement Second moment (4s) diameter to ISO 11146
Fitted Gaussian & TopHat 1/e² (13.5%) width
User selectable % of peak
Knife-Edge mode※1 for very small beams
M² Measurement 1 to > 20, ± 5%
Divergence/Collimation, Pointing 1 mrad best — contact DataRay for recommendation
Maximum Power & Irradiance 1 W Total & 0.5 mW/µm²
Gain Range 1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range
Displayed Graphics X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16
Update Rate ~5 Hz
Pass/Fail Display On-screen selectable Pass/Fail colors. Ideal for QA & Production.
Averaging User selectable running average (1 to 8 samples)
Statistics Min., Max., Mean, Standard Deviation Log data over extended periods
XY Profile & Centroid Beam Wander display and logging
Minimum PC Requirements Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port
  • ※1
    Knife-Edge mode requires CM3 model
  • ※
    製品仕様は改良等により、予告なしに変更となる場合あります。

技術資料

製品紹介動画

この製品に関するお問合せフォーム

フォームが表示されるまでしばらくお待ちください。

しばらくお待ちいただいてもフォームが表示されない場合、恐れ入りますが こちら までお問合せください。

ページトップへ