EXFO

T200S　ハイパワー波長可変光源

光集積回路・光部品の検査に不可欠な高掃引速度波長可変光源


特　長

  • 最大200nm/sのスキャン速度
  • 調整可能な全スペクトル領域で公称10dBmを実現
  • 超低自然放出光と狭い線幅
  • 波長範囲：(1260 - 1360)nm または (1500 - 1630)nm
  • コンパクト
  • 波長チューニングモードと連続掃引モード
  • アクティブ・モード・ホップ・フリー動作

用　途

  • 光受動部品
  • フォトニック集積回路
  • 研究開発用多目的波長可変レーザ
型　番 T200S-CL-M T200S-O-M
波　長 波長範囲 (nm) 1500 - 1630 1260 - 1360
波長不確定性 a (pm)  ±5 (typical), ±20 (guaranteed) ±20 (typical)
波長再現性 b (pm)  ±5 (typical) ±5 (typical)
波長安定性 c (pm)  ±10 ±10 (typical)
波長設定分解能 (pm) 1 1
波長可変速度 最大速度 (nm/s) 100 (200 optional) 100 (200 optional)
調整可能速度 (nm/s) 20, 50, 100, 200 (optional) 20, 50, 100, 200 (optional)
モードホップフリー動作 Active mode-hop cancelation Active mode-hop cancelation
光出力 全波長域での公称出力 (dBm) 10 10
光出力安定性 c (dB) ±0.01 -
スペクトル特性 線幅 (10 μs 積算時間) (kHz) d < 50 (typical) -
線幅 (100 μs 積算時間) (kHz) d < 300 (typical) -
サイドモード抑圧比（SMSR） (dB) > 45 -
信号自然放出光比 (SSSER) e (dB) > 90 (typical) -
信号自然放出光比 (SSSER) (dB) f > 75 (typical) -
相対強度ノイズ (RIN) g (dB/Hz) < -145 -
出　力 光ファイバ h PM 光ファイバ, FC/APC コネクタ
PER (dB)  17 (typical)
環境条件 動作温度 18 ℃ ～ 28 ℃
動作湿度 < 80% (結露なし)
ウォーミングアップ時間 (hour) 1
大きさ (L x H x D)  217 mm x 173 mm x 441 mm
重　さ 9 kg
接　続 モニタ 7インチ静電容量式タッチスクリーン
リモート接続 Ethernet RJ45 LAN 10/100/1000 Mbit/s
電気 BNC ポート BNC ports 1x trigger IN, 1x trigger OUT, 光出力モニタ、波長モニタ
USB ポート USB 3.0 (1), USB 2.0 (2)
安　全 Laser safety Class 1M
電　源 100 to 240V AC/ 50 to 60 Hz / 0.65 - 0.3 A
アクセサリ（別売り） ラックマウント   ２台収容可能な4Uタブレット

すべての仕様は、温度21℃ ±1℃、60分間のウォームアップ後の値です。

a. TUNEモード、高精度設定
b. TUNEモード、高精度設定、低波長から高波長への波長同調用
c. 1時間以上
d. TUNEモード、線幅の最適化設定時
e. 0.1nmの帯域幅で測定
f. 信号の周囲に±0.6nmの除外領域を設けて、100 nmのスパンで測定
g. RBW=30kHzで100MHz～3GHzの範囲におけるRIN
h. ファイバのSlow軸と偏波方向をキーコネクタに合わせた

データシート

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