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スリットスキャン式 ビームプロファイラ

スリットスキャンタイプのビームプロファイラ―はSi、InAs、InGaAsのセンサーを選択することが 可能です。
回転スリットスキャン式』では、Si/InGaAs 2つのディテクタを搭載し、1台で幅広い波長に対応したBeam'R DDや、
ビーム径、M²などを測定可能なBeam Map2シリーズなどユニークなプロファイラをラインアップ。
また、『リニアスリットスキャンタイプ』で1/e²、FWHMのビームサイズが測定可能。
(楕円形ビームも測定可)オプションステージとの組み合わせにより最大 45×23mm 以下のビーム径の測定が可能です。


技術情報

セレクションガイド


スキャニング スリット システム

スキャニング スリット システム Beam’R™2 BeamMap™2
 Profiling or Imaging? Precise, 12-bit profiling 
 Key Features Precise XY XYZθΦ Focusing, Pointing,
Divergence, Collimation, M²
 Interface USB 2.0 Port-powered 
 CW or Pulsed? CW, Pulsed Minimum PRR ≈ [500/(Beam diameter in µm)] kHz 
 Wavelengths Si:190 ~ 1150 nm
InGaAs: 650 ~ 1800 nm
Si + InGaAs:190 ~ 1800 nm
Si + InGaAs, extended: 190 ~ 2500 nm 
 Profiles: Line, X, X-Y Yes 
 X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ N/A  Yes, unique patented capability
 Area Image N/A 
 Best Resolution 0.1 µm 
 Smallest Beam 2 µm (Knife Edge mode) 
 Largest Beam See imaged areas below this table 
 Power Handling Up to several W or J with available accessories, beam diam.& attenuation/sampling dependent. Contact factory. 
 Update Rate  5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz) 
 M² Measurement Yes - with M2DU-BR
accessory
Yes - real-time
 Locate Focus Yes - with M2DU-BR
accessory
Yes - automated for focusedbeams
 Pointing/Divergence Yes - with M2DU-BR
accessory
Yes - automated for focusedbeams
 Collimation Yes - with M2DU-BR
accessory
ColliMateTM head
 Switched Gain (Opt. dB) 32 dB 

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