30msの高速測定で複屈折測定を高精度評価します。

波長可変光源と各種ステージの組み合わせで、波長分散、傾斜、マッピング測定を行えます。

低位相差～高位相差サンプルまでを一台でカバーできます。

• 複屈折位相差（リタデーション）斜め位相差
• 直線 / 円二色性（偏光）
• 波長分散
• 傾斜測定
• 光学軸
• 三次元屈折率 (nx, ny, nz)