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更新日 2008/03/07



オプトサイエンス開発製品

オプトサイエンス技術部では,微少位置決め・画像処理ソフト・自動計測ソフト等の総合技術で,光分野の開発から生産現場に至るまであらゆるご要望にお応えした装置・冶具を製作いたします。

 各製品の詳細(PDFファイル形式)は、写真をクリックしてご覧ください。
自動調芯ステージ・自動調芯コントローラー

自動調芯ステージ・自動調芯コントローラー
長年培ってきた微小位置決めステージ、画像処理技術、自動計測技術で半導体レーザ・光デバイス等の自動調芯システムをカスタム仕様にて提供します。

半導体レーザチェッカー 半導体レーザチェッカー
半導体レーザの光出力、モニターPDの電流値、ペルチェ抵抗値、サーミスター抵抗値などを測定する装置です。
温度可変恒温チャンバー 温度可変恒温チャンバー
TELCORDIA規格の試験に対応した温度可変恒温チャンバーです。試作した部品の試験を簡単に測定ができ、外から内部を観察することができます。
2軸顕微鏡システム 2軸顕微鏡システム
本装置は、電動ステージ上をX軸・Y軸の二方向から観測する顕微鏡システムです。その他、特注にて光学設計を含み、顕微鏡の製作もしています。
粗・微動マニュアルステージ CRAB 粗・微動マニュアルステージ CRAB
本ステージは、粗動用マイクロメーター及び微動用マイクロメーターの二つのマイクロメーターでステージを移動させる精密ステージです。
半導体レーザテスター 半導体レーザテスター
本装置は、半導体レーザの電気的特性を設定温度ごとに測定する装置で、半導体レーザ電源とパワーメーター及びベルチェコントローラーで構成されています。GPIBを標準装備しています。
 関連製品 →半導体レーザ(axcel)  →DPSSレーザ(Photop Suwtech)
FFP 測定装置 FFP 測定装置
LD、LED、FiberのFFP(ファー・フィールド・パターン)を測定する装置です。特長として、水平広がり角(θ?)、垂直広がり角(θ磨j測定のみならず、デバイスを回転させることによりデバイス全体の発光状態を解析できます。
受光素子 I-V高周波測定装置 受光素子 I-V高周波測定装置
・暗電流測定 ・光電流測定 ・PDキャリア検出 ・高周波特性(50G対応)
・温度特性(0℃〜80℃) ・ウエハー ・チップ
 関連製品 →光デバイス(EOSPACE)
VCSEL(LD) 評価システム VCSEL(LD) 評価システム
本装置は面発光レーザをウエハーの状態で測定する装置です。表面出射、裏面出射両タイプに対応します。
PD、APD、Vcsel 素子測定装置 PD、APD、Vcsel 素子測定装置
20G、50G対応のPD、APD、Vcsel等の素子をウエハーの状態で測定する装置です。暗電流、光電流、波長、L-I-V、FFP等、素子の電気的特性測定の他、高周波測定も行う装置です。
 関連製品 →LD電源(ILX Lightwave)
PD、Vcsel、特性測定装置 (I-L-V、高周波、波長、I-Vf、Vr) PD、Vcsel、特性測定装置 (I-L-V、高周波、波長、I-Vf、Vr)
本装置はPD、APDのバイアス特性測定(I−Vf、Vr)、高周波特性測定等の測定ができます。PD、APDの逆バイアス電圧は100V以上の電流を流すことができ、測定電流もfAで測定することが可能です。
 関連製品 →LD電源(ILX Lightwave)
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