シリコン APD、UV センシティブディテクタは紫外~青色光の微弱光を検出するために設計されており、バイオメディカルアプリケーションに最適です。
SUR シリーズは紫外/深紫外の波長域の透過率が高いシリコンを基盤としており、青色波長帯での使用において非常に高い感度と低ノイズであることがメリットとして挙げられます。
また、非常に広い波長域 (255~1000nm) を持つ点も特記事項です。
特長
- 超高量子効率 @DUV/UV
- 低ノイズ
- アクティブエリア 500µm
- UV用密封パッケージ
アプリケーション
- Fluorescent Measurements
- Analytical Equipment
- Medical
- Scintillation
- High speed photometry
仕様
Absolute Maximum Ratings
SUR500X
Min | Typ | Max | Units | |
---|---|---|---|---|
Storage Temperature | -55 | 100 | °C | |
Operating Temperature*1 | -40 | 85 | °C | |
Reverse Current Peak Value (CW Operation) |
200 | µA | ||
Reverse Current Peak Value (1 sec Duration) |
1 | mA | ||
Forward Current lF at 25°C Average Value (CW Operation) |
5 | mA | ||
Forward Current lF at 25°C Peak Value (1 sec Duration) |
50 | mA | ||
Max. Total Power Dissipation | 60 | mW | ||
Soldering (for 5 sec.) | 200 | ℃ |
-
*1Extended operating temperature range possible for special design considerations
Electrical Characteristics
SUR500X
Min | Typ | Max | Units | |
---|---|---|---|---|
Wavelength range | 260 | 1000 | nm | |
Active area diameter | 0.5 | mm | ||
Breakdown voltage @ ld= 10 µA | 100 | 200 | 300 | V |
Responsivity @ M= 100 260 nm 300 nm 350 nm 400 nm 650 nm |
21 22 25 28 44 |
21 22 25 28 44 |
A/W A/W A/W A/W A/W |
|
NEP @ M= 100 280 nm 300 nm 350 nm 400 nm |
22 20 18 16 |
22 20 18 16 |
fW/sqrt (Hz) fW/sqrt (Hz) fW/sqrt (Hz) fW/sqrt (Hz) |
|
Temperature coefficient @ M= 100 | 0.9 | V/K | ||
Dark Current, ld @ M= 100 | 200 | pA | ||
Noise current @ M= 100 | 2 | pA/sqrt (Hz) | ||
Capacitance @ M= 100 | 1.4 | pF | ||
Rise Time @ M= 100 & 400 nm& RL= 50 Ohms | 2 | nsec | ||
Cut-off frequency @ M= 100 | 150 | MHz |
技術資料
データシート
カタログ
アプリケーション レポート
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