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MFITF
インピーダンス 試験装置


  • MFITF インピーダンス テストフィクスチャ


  • MFITF インピーダンス テストフィクスチャ 正面


  • MFITF インピーダンス テストフィクスチャ 上面


  • MFITF インピーダンス テストフィクスチャ 図面


付属の MFITF 試験装置を使用することにより、最高の測定結果を取得することができます。試験装置とキャリアは、どちらも寄生容量や減衰を最小限に抑えるよう設計されています。一方で、機器は市販されているその他の試験装置やインピーダンスセットアップとも完全な互換性があります。AUX 出力と入力が、DUT やアナログフィードバックから別の機器に対し、追加のコントロールシグナルを提供・受信します。DIO コネクタとトリガポートにより、セットアップのその他のパーツを用いた正確な同期を必要とする測定方法が可能になります。

MFIA インピーダンスアナライザは、必ず MFITF インピーダンス試験装置と組み合わせて販売されています。以下に表示されている試験装置は、MFIA のフロントパネルの LCUR、LPOT、HPOT、HCUR コネクタに直接接続されています。BNC コネクタの間隔には、LCR メータやインピーダンスアナライザ試験装置に対する確立された標準との互換性があります。MFITF は、表面実装型デバイス(SMD)用やスルーホールコンポーネント用の低静電容量・低損失 DUT キャリアとセットになっています。MFIA を MFITF やキャリアと併用することで、最高精度を確保します。


MFITF Impedance Test Fixture

以下の12 PCB ベースのキャリアは MFITF と併用することで、以下もたらします。

オープン(1個) 補償・試験用オープン回路
ショート(1個) 補償・試験用短絡
1 kΩ 0.05% (1個) 補償や試験における 0.05% の精度をともなう1 kΩ負荷
4Pt(4個) 4端末接続付き SMD 用キャリア
2Pt(3個) 2端末接続付き SMD 用キャリア
スルーホール(3個) スルーホールコンポーネント用キャリア

この試験装置は、様々なリード型デバイスのインピーダンス評価のために設計されています。MFITF は、幅広いインピーダンス測定範囲を実現するケルビン接触を使用します。接触チップは、デバイスの形状によって変更することが可能です。。

周波数帯域 DC ~ 10 MHz
最大電圧 ±42 V, AC および DC
適用モデル MFIA, MFLI
ターミナルコネクタ 4-端子ペア, BNC, 22 mm 間隔
寸法 8.7 x 2.7 x 4.1 cm
重量 113 g
動作温度 +5°C ~ +40°C
テストフィクスチャ / キャリア浮遊容量 < 2 fF / < 8 fF
DUT 接続 PCB キャリア, 8ピン・ コネクタ (Sullins PPPC081LFBN-RC)

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