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NIR Meter 小型 NIR 分光センサ

NIR 900~1700nm 対象、これまでにない低価格!

小型NIR分光センサ NIR Meter

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本製品は、近赤外域 900 ~ 1700nm を対象に米国 T.I 社の DLP®テクノロジを用いて分光スペクトルを測定する分光センサです。

入射口はサンプル光を直接入射するウィンドウに加えて、標準付属される SMA アタッチメントを取付けるこで光ファイバ接続も可能となっております。

標準ソフトウェアでは、データタイプとして相対強度 [count] 及び、反射率 [%] / 透過率 [%] / 吸光度 [Abs] などの各種測定を行うことが可能で、二次微分・平滑化・波長補間などのデータ処理も充実しております。

また、受光ウィンドウの両側面に反射測定用のランプが内蔵されており、外部光源を用意することなく本分光センサ単体で反射測定を行うこともできます。
パソコンにUSB を接続するだけで直ぐにラボレベルの近赤外分光測定を行うことができます。

  • DLP®テクノロジという画期的な手法を用いて これまでにない低価格を実現!
  • 小型軽量で使用環境不問
  • 近赤外対象 900 ~ 1700nm
  • 受光素子には浜松ホトニクス社製 InGaAs を採用
  • S/N 比 6000:1 の低ノイズ
  • 電源供給は USB バスパワー
  • 反射測定用ランプ内蔵
  • 入射口はウィンドウ / SMA コネクタ切替え式
  • 迷光除去用の 885nm ロングパスフィルタ内蔵
分光センサ
分光方式 回折格子、DLP® Micromirror Array
受光素子 InGaAs
波長範囲 900 ~ 1700 nm
半値幅分解能  10 nm typ.
S/N比 6000:1
内蔵ランプ タングステン、1.4 W typ.
入射口 Sapphire ウィンドウ、SMA コネクタ
インターフェイス USB
電源供給 USBバスパワー
サイズ W 100×H 50×D 77 mm
重量 300 g 

標準ソフトウェア
対応 OS Windows Vista 以降
データタイプ 相対強度 [count]
反射率 [%]
透過率 [%]
吸光度 [Abs] etc.
データ処理 二次微分
平滑化
波長補間
ピーク・半値幅検出 etc.
保存データ  CSV テキスト形式

標準ソフトウェア 

回折格子/DLP®テクノロジーによる分光方式

Sapphire ウィンドウを透過したサンプル光は 25µm スリットと885nm ロングパスフィルタを介して、コリメーターレンズにより回折格子に照射されます。回折格子で分光されたサンプル光 はフォーカシングレンズにより形成された後DLP®マイクロミラーアレイで単一波長に抽出され、InGaAs 素子で強度検出されます。

DLP®マイクロミラーアレイは米国 T.I 社の持つ MEMS を用いた技術で、2次元配列されたミラー 内の特定の列のみを煽ることで単一波長の抽出を行うものです。

※ DLP®はテキサス・インスツルメンツ社の登録商標です。

回折格子/DLP®テクノロジーによる分光方式

内部構造


入射口

入射口はサンプル光を直接入射するSapphire ウィンドウとなっております。ここに、標準付属される SMA アタッチメントを取付けるこで光ファイバ接続可能なSMA コネクタ仕様にもなります。

Sapphire ウェンドウ SMA コネクタ SMA アタッチメント
Sapphire ウィンドウ SMA コネクタ SMA アタッチメント

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