ファイバーアナライザー
光ファイバー屈折率分布測定装置
マッハー・ツェンダー干渉計による光ファイバーの屈折率分布測定；
シリカ、非シリカ、プラスチックなど様々な材質のファイバーをクリーブなしで非破壊測定可能
米国インターファイバーアナリシス社製多波長光ファイバー屈折率分布測定装置は、光ファイバーの屈折率分布を測定する装置です。測定方式としてマッハー・ツェンダー干渉計を用いた光学系を採用しています。干渉計の光路上に被測定ファイバーを置き、その後CCDで検出された干渉縞信号に高速フーリエ変換など複数の数学的処理を施すことにより、ファイバーの屈折率分布データが得られます。
- 高精度: 屈折率測定精度が0.00015
- 空間分解能: サブµmの空間分解能が得られます。
- 波長: 測定光として450nm～1000nmの光を使用
- ファイバー径: 40µm～400µm
- ファイバー種類: 様々な種類のファイバーを測定可能
- シングルモードファイバー、マルチモードファイバー、マイクロ構造ファイバー、PMファイバー、希土類ドープファイバー、クラッド励起ファイバー、ラージモードエリアファイバー、高デルタファイバー、プラスチックファイバーなど
- 非破壊測定; ファイバーをクリーブする必要なし、測定中でも光信号の伝送が可能 (ただしポリマーコーティング/バッファー層ははがす必要あり)
測定例1 ステップインデックスファイバーの1次元屈折率プロファイル
測定例2 PMファイバーの2次元屈折率プロファイル
