DataRay Inc.

ビームプロファイラー

CCDビームプロファイラー

WinCamD　1.4Mpixel CCD 14bitADC搭載

• 190nmから1150nmの波長レンジ
• 最大1200×1024ピクセル
• 6.3(H)×4.8(V)mm測定エリア
• 分解能4.65μm正方ピクセル
• 階調14bit ADC (16384階調)
• 広ダイナミックレンジ48dB (CW)
  
  
• 窓なしCCD採用で干渉縞なし
• レーザとトリガによる同期可能
• 取りつけ自在コンパクトヘッド
• Windows 98SE、Me、NT、2000、XP対応
• VC++、VB、LabViewからの利用対応
• 専用カメラヘッド２台まで対応
• UVカメラオプション
• ソフトウェア無料アップグレード
• 明快なデータレイ修理保証規定

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CCDビームプロファイラー IRカメラ(1475-1600nm用)

WinCamD/IR　IRphosphor CCD for C,L band

• 1475nm-1600nmの波長をカバー (1310nmの感度は2%程度)
• 最大1200×1024ピクセル 6.3(H)×4.8(V)mm測定エリア 分解能20μm
• ガンマ補正・非均一さ補正
• 許容パワー1mm径ビームで20μWから100mW (1550nmにおいて、NDフィルター取りつけ時 0.02%)

　※　他の仕様はWinCamDと同じです

CCDビームプロファイラー TaperCamDシリーズ

TaperCamD　14.4(H)x10.8(V)mm
TaperCamD20/15　19.6(H)x14.8(V)mm

ビーム径5mmから10mm程度のレーザに最適です。

• 波長範囲： 300nm-1150nm
• 有効CCDピクセル数： 1200×1024
• 測定エリア： 14.4 × 10.8mm (TaperCamD)
  　　　　　 19.6 × 14.8mm (TaperCamD20/15)
• 換算ピクセルサイズ： 14.5μm正方ピクセル(TaperCamD)
  　　　　　　　　　 20.1μm正方ピクセル(TaperCamD20/15)
• コマ収差：　±2%以内
• 寸法： 幅115mm 高さ61mm 厚み22mm (突起部除く)
  　他にTaper部の突起部が30mm程度あります

　※　その他の仕様はWinCamDのカタログを参照下さい

UVカメラオプション （StarTech社製）

BSF-10G　ミニカメラ　他

Nd-YAG３倍波、４倍波に最適です。
　※　DataRay社WinCamDに取りつけ出来ます

• 波長感度域： 軟X線から355nm程度まで
• 空間分解能： 20μm程度
• 感度: フルスケールの1%
• レンズマウント形式： Cマウント
  
• 倍率： 約１：１ (1/2インチCCDカメラ)
  　特注にて　1：２、 １：３等の倍率も可能です。
• 開口部サイズ： 4.8mm×6.4mm (CCDサイズによって変わります)
• 損傷限界： 500mJ/cm²　(シングルパルス)
  　 10W/cm² (平均出力)
  ※上記の損傷限界は波長193nm、248nm、308nmにおいてのものです。
• 空間均一さ： 5%より良
  
• 最大許容繰り返し率： 限界なし
  
• リニアダイナミックレンジ： ６倍以上
  
• 調整： アイリス
  
• 寸法・重量： 直径39mm 全長77mm　150g
  

ライトアングルプリズム・アタッチメント RA-BSF10G
BSF-10Gの先頭に取りつけビームを90度曲げることで奥行きを40mmに短縮します

リニア・スリットスキャン式 ビームプロファイラー

BeamScope-P8　ビームアナライザー

• ビーム径測定 0.5μmから5mm程度
  シングルスリット時25mm程度まで
• 分解能　0.5μmもしくはビーム径の0.5%
• 対応波長
  190-1150nm (Si ヘッド)
  800-1800nm (Geヘッド)
  2.-4μm (InAsヘッドpinholeのみ)
  3.5μ-10.6μm (II-VI　特注 pinhole)
• ダイナミックレンジ 55dB (Siヘッド)
  
• ISO11146準拠
• Mスクエア測定オプション有
• 細くコンパクトな測定プローブ
• スリット交換自由
• 各種オプションスリット
• パワフルなソフトウェア
• Windows98SE、Me、2000、XPに対応
• Mスクエア測定オプション
• ソフトウェア無料アップグレード
  
• 明快なデータレイ修理保証規定

• レーザの特性把握／レーザアセンブリの開発
• レーザアライメント調整／レーザアセンブリーの試験

マルチプレーン・スリットスキャン　ビームプロファイラー

BeamMap　複数平面高速スキャンプロファイラー
BeamMap ColliMate　コリメート光用

• 最速4Hzでの高速スキャニング
• 奥行きを持った3〜5平面でスキャニングにより
  　リアルタイムでの複数平面のプロファイリング
  　リアルタイムでのフォーカシング・アライメント調整
  　リアルタイムでのM2と広がり角測定
  
• 分解能　ビーム径の0.2% (最高0.1μm)
  
• 対応波長レンジ
  　190-1150nm (Siヘッド)
  　800-1800nm (InGaAsヘッド)
  　2μm-4μm (InAsヘッド)
  
• 広ダイナミックレンジ
  
• パワフルなソフトウェア(VC++,VBプログラミング対応)
• Windows98SE、Me、2000、XPに対応

• レーザ及びレーザ光学部品のアライメント・フォーカシング同時調整と品質検査に
• レンズのフォーカステストに 短焦点のものにはBeamMap コリメート光にはBeamMap ColliMate
• スタンドアロンのビームプロファイラーとして、またはシステムの組み込み装置として 　　　　　　　　　　　　　　　　　　

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シングルプレーン・高速スリットスキャンビームプロファイラー

BeamR'　高速スキャンプロファイラー

• BeamMapシリーズの 1平面スキャン機
  
• 最速5Hzでの高速スキャニング
  
• 分解能　ビーム径の0.2% (最高0.1μm)
  
• 対応波長レンジ
  　190-1150nm (Siヘッド)
  　800-1800nm (InGaAsヘッド)
  　1000-4000nm (InAsヘッド)
  
• 広ダイナミックレンジ
  
• パワフルなソフトウェア(VC++、VBプログラミング対応)
  
• Windows 98SE、Me、2000、XPに対応
  
• 搭載スリット
  　Siヘッド： 2.5μmXYスリット、 25μmXYスリット
  　InGaAsヘッド： 5μmXYスリット、 50μmXYスリット
  

• レーザ及びレーザ光学部品のアライメント調整と品質検査に
  
• スタンドアロンのビームプロファイラーとして、またはシステムの組み込み装置として