
更新日 2008/07/31
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偏光・位相差解析/測定システム
ミュラーマトリクス・ポラリメーター
AXOMETRICS社(米国)のミュラーマトリクス・ポラリメーターはサンプルの前後を2枚の高速回転する波長板で挟むデュアル・ローテート・リターダー方式を採用し、高速にサンプルに向けてあらゆる偏光を入力する事でサンプルの偏光、位相差特性を測定します。

- ディスプレイ用偏光・位相差板の特性評価
- LCoSなどの偏光・位相差特性評価
- DVD、CDピックアップなどの光学デバイスの偏光・位相差板特性評価 等

測定時間は0.1秒(最速)と高速なので偏光状態を確認しポアンカレ球上にリアルタイムで表示します。
位相差板、偏光子、それらの複合材料などのサンプルはただサンプル台に置くだけで、ポアンカレ球上に透過軸の向き、進相軸向を表示。位相差などの情報は数値で表示します。
システムはX-Yステージ、ロテート&チルトステージ、波長可変光源などのユニットと併用してお使い頂けます。
最速10測定/秒なのでスキャニングしながらのアクティブアラインメントにも対応できます。
波長可変光源をスキャンさせれば波長に対しての位相差の大きさ、偏光状態の変化など、ステージを傾斜させれば視野角などの測定も可能です。
自動で進相軸を判別しますので、進相軸、遅相軸上でステージを傾斜させて位相差の変化も測定可能です。

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