Arden Photonics Ltd.

ModCon モードコントローラ

マルチモードファイバー中の光伝播は光源によってモード分布が大きく異なります。 このことで、マルチモードファイバーを使用した製品、測定では誤差が非常に大きく得られます。高速光伝送ではマルチモードファイバー中の伝播（モード）が、今後の高速通信に問題となった繰ることが考えられます。 Arden Photonics社ではこのマルチモードファイバーの伝播状態（モード）を一定にするモードコントローラをご紹介しています。今お使いの測定系に接続することで、誤使用の光源に関係なくマルチモード中の伝播状態（モード）をISO/IEC14763-3に基づき、非常に安定した状態でご使用になれます。 マルチモードファイバのモードのコントロールはこのModConモードコントローラを是非お試しください。

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MPX モーダルエクスプローラ

ギガビットイーサネット等で使われるマルチモードファイバーのモード伝播をリアルタイムで評価・測定する装置です。

MPX本体 ：幅25cm　高9cm　奥行27cm 重量2.5kg
10,20,30dB 減衰フィルター及びユニバーサル2.5mm径フェルールアダプタ付　左写真の光学部本体に加えて制御用PCがあります。

MPX製品ラインナップ MPX-1 （850nm用） MPX-2 （1300nm用) MPX-1/POF (850nm用、1mm径までのPOF対応） MPX-12 (850,1300nm兼用) ユニバーサル1.25mm径フェルールアダプタ IEC11801とTIA/EIA568のLAN向けの光源とパッチコードの評価 光部品のモード伝播特性の測定 IEEE802.3ギガビットイーサネット向けのVCSELの評価 モードスクランブラやモードフィルタの評価

MPXモーダルエクスプローラ295KB

MPX モーダルエクスプローラについて

私たちアーデンフォトニクス社は、このMPXがマルチモードファイバー、光源、光部品のモード状態の測定に強力なツールであると考えています。

MPXモーダルエクスプローラは、ファイバーのモード分布として知られている、マルチモードファイバー中のさまざまなモードの分布を直接測定することを可能にしています。その測定技術は、ビデオカメラによるファイバーパッチコードの端面でのニアフィールド分布の画像処理技術と分析技術から成り立っています。モード分布のリアルタイムの可視化により、モードフィルターの効果とファイバー取り扱い方法を最適化することが可能になります。

モード分布は、LAN内のファイバーの性能において、特に重要な役割を担っています。たとえば、リンクロスと達成可能なバンド幅は、トランシーバに接続されたファイバのモード分布に直接に影響を受けます。この用途のために、MPXは、Effective Coupled Power RatioやEncircled Fluxといった標準化パラメーターの測定もできるようになっています。

MPX モーダルエクスプローラで計測できる項目

�@ Effective Coupled Power Ratio (CPR)

�A Mode Transfer Function (MTF)

�B Mode Power Distribution (MPD)

�C Encircled Flux

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BQM-30 ビームスクエア・モニター

キネティック社のImage MultiPlexを使用したビームスクエア・モニターです。
パルスレーザ、ＣＷレーザのビーム品質をリアルタイムにかつ非常な簡単なセットアップで測定します。

• レーザ、ＬＥＤ、ＶＣＳＥＬなどのモニタリング
• ビーム品質チェック　等
  

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AWS-50 波面センサー

ウェーブフロントセンサー (波面計測装置)
AWS-50ディスク・ミラー・レンズの収差を高速解析

ウェーブフロントセンサーは、Curvature Sensing方式を用いてウェーブフロント(波面)を測定しています。

ウェーブフロント測定方法について

Curvature Sensing方式とは、レーザ干渉計式やシャック・ハルトマン式とならぶ代表的な波面計測の方式ですが、測定面を精密に移動させて計測する必要があるため、大学や研究所での同方式での測定はされていたものの、同方式のウェーブフロントセンサーは商用化されていませんでした。

英国科学技術開発企業のキネティック(QinetiQ)社は、Curvature Sensing方式の難点である「精密に移動させて計測」を解決することで、今回の商用化に至りました。それは同社特許技術であるIMPTM（Image MultiPlex）により、グレーティングを用いて、機器を精密移動させずに測定する方法を考案したのです。この技術を用いたウェーブフロントセンサーを英国のアーデンフォトニクス社が、キネティック社よりライセンスを受けて製造と販売を行っています。この新しいCurvature Sensing方式のウェーブフロントセンサーにより次に述べる数々の特長が生まれました。

新しいCurvature Sensing方式のAWS-50の特長

この方式では、基本的にはレーザ干渉計式とほぼ同じ計測スタイルをとります。測定対象の光学部品に合わせたレンズオプションを選択し、12mm径よりも大きなミラーやレンズには、ビームエキスパンダーを装着します。

他方、レーザ干渉計式との大きな違いは、レーザのようなコヒーレントな光源が必要ないことです。そのためLEDが光源として採用されています。それにより、小型化と光源のメンテナンスフリー化が実現しました。また、干渉計式と比べて機器全体が振動に対して強くなり、除振台ではなく作業台の上での測定が可能になりました。さらに、ミラーの測定では原器不要で、対象物を粗調整することで測定ができます。そのため、検査用途に用いる場合、段取り時間を大幅に短縮することができ、検査作業の生産性向上が期待できます。

また、この方式は反射型の測定(ディスク表面や平面/凹面ミラー)だけでなく、透過型(レンズ、ウインドウ)の測定も、追加の光源ユニットを追加するだけで計測可能など、柔軟なセッティングが可能になりました。アダプティブオプティクスの反射光の波面をリアルタイムでモニターする使い方にも向いています。

まとめ

よって、レーザ干渉計と同様の測定が、短い段取り時間で測定可能であり、ゼルニケ多項式(10次)の収差解析という数値データが短時間に得られるというメリットがあるのが新しいCurvature Sensing方式によるAWS-50です。

AWS-50は、オプティクス生産やハードディスク生産における検査工程の品質管理の質を向上させ、検査効率を上げるカギになると、開発元のキネティック社と製造・販売元のアーデンフォトニクス社では考えています。

1. ゼルニケ多項式(10次)で収差解析
2. リアルタイム波面3D表示
3. レーザ光源が不要
4. 内蔵LED光源のメンテナンス不要
5. 振動に強く、作業台で測定OK
6. 測定物を粗調整のまま測定OK
7. 検査用途では段取り時間の短縮化
8. 省スペース (本体220x140x75mm)
9. PCへはケーブル1本で接続（IEEE1394)
10. システムはノートパソコン上で動作
11. テレスコープオプションで各径の平面・凹面ミラー、レンズ、ウインドウに対応
12. National Instruments社LabView用ライブラリを別途提供可能