検査・測定機器・センサー
ポラリメータ
- 偏光・位相差解析/測定システム ミュラーマトリクス・ポラリメータ [AXOMETRICS社]
- リアルタイム複屈折測定システム StrainScope™ [ilis社]
- イメージングポラリメータ StrainMatic® [ilis社]
- ポラリメータ（偏光解析システム） [Meadowlark Optics社]
パワーメータ
- 高繰返しパルスレーザ用サーモパイルヘッド [Fortech HTS社]
- ラマン分光用光学プローブ [Inphotonics社]
- iCure™ P200 IRパワーメータ [IRphotonics社]
- UVキュアリング(硬化･乾燥・接着)用のLED向けのパワーメータ OmniCure® LED Light Meter ［LUMEN DYNAMICS Group社]
- 簡易型レーザパワープローブ [Macken Instruments社]
- レーザパワーメータ& エネルギーメータ [OPHIR OPTRONICS社]
- パワーセンサー [OPHIR OPTRONICS社]
- エネルギーセンサー [OPHIR OPTRONICS社]
- ディスプレイ [OPHIR OPTRONICS社]
- USBインターフェース Juno [OPHIR OPTRONICS社]
- PCインターフェース [OPHIR OPTRONICS社]
- OEM用パワーセンサー・エネルギーセンサー・パワーメータ [OPHIR OPTRONICS社]
- 紫外レーザ用パワーメータ [STAR TECH INSTRUMENTS社]
- 超高精度レーザ干渉測長プローブ [SIOS Meßtechnik社]
ビームプロファイラ
- CCD ビームプロファイラ [DataRay社]
- IR ビームプロファイラ [DataRay社]
- 回転・スリットスキャン式 ビームプロファイラ [DataRay社]
- リニア・スリットスキャン式 ビームプロファイラ [DataRay社]
分光器
- UV、VIS、近赤外用ファイバカップル分光器 Quest™シリーズ BRC112 [B&W TEK社]
- マルチチャンネルファイバ分光器 Compass™シリーズ BTC112E [B&W TEK社]
- フォトダイオードアレイ分光器 Cypher™シリーズ BRC711E [B&W TEK社]
- 近赤外用ファイバカップル分光器 Sol™シリーズ BTC261E [B&W TEK社]
- SD-OCT用高性能分光エンジン Deep View™シリーズ [BaySpec社]
- CCD検出器／カメラ [BaySpec社]
- InGaAs検出器／カメラ [BaySpec社]
- 近赤外分光器エンジン Super Gamut™シリーズ [BaySpec社]
- 紫外可視分光器 [BaySpec社]
- BioView® 2D-蛍光スペクトロメータ [DELTA社]
- 分光測定器 [A.KRÜSS Optronic社]
- 分光器 [Mightex Systems社]
- XPERAY™ Spectromeer (LED) [NANOBASE社]
- XPERAY™ FAC (Fibter Auto Calibrator) [NANOBASE社]
- 小型USBスペクトロメータ Qwave [QIOPTIQ社]
- 温度コントロール付きサンプルキュベットホルダー qpod 2e™ [QUANTUM NORTHWEST社]
- 温度コントロール付きサンプルキュベットホルダー qpod® [QUANTUM NORTHWEST社]
- ミニスペクトロメータ Color Shades Spectro [SILIOS TECHNOLOGIES社]
- OCT用分光器 Cobra [Wasatch Photonics社]
レーザ応用測定機器
- FBGA-IRS [BaySpec社]
- 高精度FBGアナライザ WaveCapture™ [BaySpec社]
- 蛍光測定装置 LF 402 Metabolic [IOM社]
- 超小型レーザドップラー流速計 miniLDV [MSE社]
- 超小型レーザドップラー流速計 2D miniLDV [MSE社]
- 超小型レーザドップラー流速計 3D miniLDV システム [MSE社]
- 超小型レーザドップラー流速計 ultraLDV システム [MSE社]
- 超小型レーザドップラー流速計 一体型 miniLDV システム [MSE社]
- 壁面せん断応力センサー MicroS™ [MSE社]
- 非接触型干渉計 [PRECISION-OPTICAL ENGINEERING社]
- レーザ干渉式振動計 [SIOS Meßtechnik社]
- 各種レーザ干渉用デバイス [SIOS Meßtechnik社]
メータ・テスター
- 光合成計測 ハンドヘルド測定装置 mini PPMシリーズ [EARS社]
- 屈折計 [A.KRÜSS Optronic社]
- デンシトメータ [A.KRÜSS Optronic社]
- サーモスタット [A.KRÜSS Optronic社]
- 融点測定器 [A.KRÜSS Optronic社]
- フレームフォトメータ [A.KRÜSS Optronic社]
- 小動物用パルスオキシメータ ［Med Associates］
- ポータブル硬度計 ［TIME GROUP社］
- ポータブル表面粗さ計 ［TIME GROUP社］
- コーティング膜厚測定計 ［TIME GROUP社］
- 超音波厚さ計 [TIME GROUP社］
- 超音波探傷器 [TIME GROUP社］
- ポータブル振動計 [TIME GROUP社］
- ポータブル色差計 [TIME GROUP社]
- 受光素子 I-V高周波測定装置 [オプトサイエンス開発製品]
センサー
- IRビューアー [Electrophysics社]
- CO2センサーモジュール S-100 ［TCC ELT社］
- CO2ガストランスミッタ CD-100/CD-200 ［TCC ELT社］
- 室内空気環境モニター MB-350 ［TCC ELT社］
- 壁面せん断応力センサー MicroS™ [MSE社]
分析器
- SERS基板 Q-SERS™ G0／G1 [NANOVA社]
- マイクロ流路チップ [Translume社]
- レンズ・光ファイバ集積型マイクロ流路 [Translume社]
- フローセル [Translume社]
- 3D-ガラスマイクロマシニングサービス [Translume社]
その他の測定機器
- ゲルドキュメンテーション・システム LIAS Slite140 [Avegene life science社]
- ディスプレイ評価・カラーマネージメント計測器 Colo Suke [スペクトラ・コープ社]
