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お問い合わせ 東京 tel:03-3356-1064 大阪 tel:06-6305-2064 名古屋 tel:052-569-6064

更新日 2008/06/30

計 測

計測
 レーザビーム品質計測

 レーザパワーメーター [OPHIR OPTRONICS社]
 CCDビームプロファイラー WinCamD [DataRay社]
 CCDビームプロファイラー TaperCamDシリーズ [DataRay社]
 リニア・スリットスキャン式 ビームプロファイラー BeamScope-P7 [DataRay社]
 マルチプレーン・スリットスキャンビームプロファイラー BeamMap [DataRay社]
 シングルプレーン・高速スリットスキャンビームプロファイラー BeamR' [DataRay社]
 フェムト秒レーザパルス測定システム [Ames Photonics社]
 BQM-30 ビームスクエア・モニター [Arden Photonics社]
 高繰返しパルスレーザ用サーモパイルヘッド [Fortech HTS社]
 簡易型パワー測定器 [Macken Instruments社]
 紫外レーザ用バリアブルアッテネーター [METROLUX Optische Messtechnik社]
 紫外レーザ用ビームプロファイラー [METROLUX Optische Messtechnik社]
 オプティカルツール o-TOOL [PARADIGM LASERS社]
 非接触型干渉計 [PRECISION-OPTICAL ENGINEERING社]
 紫外レーザ用パワーメーター [STAR TECH INSTRUMENTS社]
 レーザ計測機器 [コヒレント・ジャパン社]


 分光器

 ラマン分光用光源 [B&W TEK社]
 安価型マルチチャンネル分光器 [B&W TEK社]
 高感度マルチチャンネル分光器 [B&W TEK社]
 フォトダイオードアレイ分光器 [B&W TEK社]
 マルチチャンネル超高速レーザ分光システム [Ames Photonics社]
 SD-OCT用高性能分光エンジン Deep Viewシリーズ [BaySpec社]
 近赤外分光器エンジン Super Gamutシリーズ [BaySpec社]

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 検出器

 3648素子リニアCCDアレイ検出器 [Ames Photonics社]
 アバランシュフォトダイオード [LASER COMPONENTS社]
 id100型 & id101型シリーズ 可視域シングルフォトンディテクター [id Quantique社]
 id150-15-1x10型 可視域シングルフォトンディテクター(1x10ch リニアアレイタイプ) [id Quantique社]]
 id201型 900-1700nm帯単一光子検出モジュール [id Quantique社]


 センサー

 Wavefront Sensor (波面計測装置) [Arden Photonics社]
 FBG光ファイバーひずみセンサー、温度センサー [FOS&S社]
 超音波厚さ計 [TIME GROUP社]
 超音波流量計 [TIME GROUP社]
 ポータブル振動計 [TIME GROUP社]


 ポラリメーター

 偏光・位相差解析/測定システム ミュラーマトリクス・ポラリメーター [AXOMETRICS社]
 ポラリメーター(偏光解析システム) [Meadowlark Optics社]
 オプティカルツール o-TOOL [PARADIGM LASERS社]

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 オートフォーカス

 トラッキングオートフォーカス [WEGU-DEVICE社]


 3次元形状測定

 非接触三次元形状測定装置 [Optical Metrology (OPTIMET)社]


 反射率測定

 超高分解能反射率/損失測定システム [NOVAWAVE TECHNOLOGIES社]


 テラヘルツ測定

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 半導体測定

 MFS-630-F型 多機能薄膜評価システム [MetaTechnica社]
 Transometer 薄膜熱特性評価システム [MetaTechnica社]
 非破壊膜厚/硬度測定 LASAW-NCシステム [MetaTechnica社]
 ポータブル表面粗さ計 [TIME GROUP社]
 コーティング膜厚測定計 [TIME GROUP社]
 ポータブル硬度計 [TIME GROUP社]



 IRビュワー [Electrophysics社]
 長焦点顕微鏡K2 [Infinity Photo-Optical社]
 コントラストオートフォーカス URANUS [ブイ・テクノロジー社]
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